Paris Expo - Porte de Versailles - Hall 7.2 Radiofréquences, Hyperfréquences, Wireless, CEM et Fibre Optique
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Sylvie Cohen: Commissaire général
Ligne directe: +33 (0)1 44 39 85 16
Email: s.cohen@infoexpo.fr
Conférence    
La fiabilité des composants de puissance hyperfréquence
Président de session Philippe Eudeline – Thales Air Systems
 
24 septembre 2020 de 14:00 à 17:00

« Vers des composants GaN fiables délivrant de haute performance en gamme d'ondes millimétriques »
Riad KABOUCHE, Kathia HARROUCHE, Farid MEDJDOUB
IEMN-CNRS, UMR8520, Villeneuve d’Ascq

« De la caractérisation aux essais de vieillissement de composants HEMT GaN pour des applications RADAR »
Par Mohamed NDIAYE Laboratoire CEVAA

« 150 000 heures de vieillissement en conditions opérationnelles radiofréquences de composants HEMT GaN »
Par Olivier LATRY GPM Université de Rouen

« Mesure de température de transistors GaN en utilisant a technologie spectroscopie Raman »
Par Mr Boudart Bertrand Laboratoire GREYC Université de Caen

 
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