Paris Expo - Porte de Versailles - Hall 7.2 Radiofréquences, Hyperfréquences, Wireless, CEM et Fibre Optique
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Sylvie Cohen: Commissaire général
Ligne directe: +33 (0)1 44 39 85 16
Email: s.cohen@infoexpo.fr
Conférences & Ateliers 2020    
Mardi 23 septembre 2020
Blindages, simulation et effets réducteurs
de 10:00 à 12:30
Président de session : Michel Mardiguian – Expert CEM
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- Éolienne sur impact de foudre - Sébastien Journet - SES Europe

- Théorie simplifiée du blindage de parois minces avec ouvertures.
Michel Mardiguian - Consultant Privé

- Validations de quelques règles simples pour estimer l'Efficacité de Blindage de parois minces avec ouvertures multiples. Sébastien Bazzoli, CEA

- Récentes avancées en caractérisation et application du "béton intelligent" pour le blindage des bâtiments. Jean-Paul Caron-Fellens, EUROMC
Techniques de Radiolocalisation SESSION ANNULEE
de 14:00 à 17:00
Président de session Jean Marie Floc’h - IETR avec la participation d’ingénieurs de Thalès.
Mercredi 24 septembre 2020
Radio embarquée et évolutions de la radio
de 10:00 à 12:30
Président de session Philippe Sissoko – LCIE
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- Intérêt des environnements de test compacts pour les tests OTA 5G NR - Vincent Lascoste - Rohde & Schwarz

- Comment assurer la coexistence radio et réduire les interférences dans le cas de déploiement massif d’équipements IoT . Philippe Sissoko - LCIE Bureau Veritas

- Maitrise des harmoniques crées par des équipements RFID fonctionnant à 13,56 MHz. Philippe MALIET - Sopemea AEMC

- SAR RF Vector Probe Array measurements : The new measurement standard IEC 62209-3 (2019) for more accuracy and health. Mehdi RAMDANI - ART-FI
La fiabilité des composants de puissance hyperfréquence
de 14:00 à 17:00
Président de session Philippe Eudeline – Thales Air Systems
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- Présentation du CFF Centre Français de Fiabilité - NAE ( Normandie Aeroespace )

- « Vers des composants GaN fiables délivrant de haute performance en gamme d'ondes millimétriques ». Riad KABOUCHE, Kathia HARROUCHE, Farid MEDJDOUB, IEMN-CNRS, UMR8520, Villeneuve d’Ascq

- « Mesure de température de transistors GaN en utilisant a technologie spectroscopie Raman ». Par Mr Boudart Bertrand Laboratoire GREYC Université de Caen


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