21 & 22 mars 2018
Paris Expo - Porte de Versailles - Hall 5.3
Radiofréquences, Hyperfréquences, Wireless, CEM et Fibre Optique
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Conférence    
Fiabilité des composants et Systèmes Electroniques Hyperfréquences- Président de session Philippe Eudeline - Thales Air Systems
Salle 2
 
21 mars 2018 de 9:30 à 16:40

Session du matin : Fiabilité des composants de puissance en technologie GaN

9h30: Vieillissement des transistors HEMTs AIGaN/GaN radiofréquence en conditions opérationnelles radars - Olivier Latry - Université de Rouen

9h55: On-wafer time-domain characterization of power GaN HEMTs for accurate nonlinear modeling of thermal and trapping effects and their impacts on pulse to pulse reliability - Seifeddine Fakhfakh - XLIM Limoges

10h20: Mesure de température de transistors GaN: comparaison de la thermoréflectance et de la spectroscopie Raman - Bertrand Boudart - Université de Caen

10h45: Etude de l'effet " belly shape " dans les HEMT GaN sur substrat SiCb - Arnaud Curutchet - IMS Bordeaux

11h10: Aspects technologiques liés à la fiabilité des composants GaN pour les applications en gamme d'onde millimétrique - Farid Medjdoub - IEMN Lille

11h35: GH25, 1ère technologie MMIC GaN 0,25µm évalué spatiale: revue des données fiabilité - Lény Baczkowski - UMS

12h00: Conception de circuits électroniques intégrant une analyse prédictive du vieillissement sous contraintes en DC et approche RF. - Patrick Martin - LAMIPS

Session de l'après-midi : Spécificités des moyens de mesure et de conception dévolus à la fiabilité des composants hyperfréquences

14h00: Bancs de vieillissement et de caractérisation de composants RF - Mohamed Ndiaye - CEEVA

14h25: Techniques electro-optique utilisées pour l'analyse de défaillance de composants hyperfréquences (III-V) - Dominique Carisette - Thales Research Technology

14h50: Fiabilité des Composants Hyperfréquences: les Spécificités des Applications Spatiales en termes d'Exigences et Profil de Mission. - Luc Murato - Thales Alenia Space

15h15: Le Centre Français de Fiabilité, un espace d'échanges pour renforcer des acteurs de la fiabilité en France - Tarik Younes-Ait - CEVAA

15h50: La fiabilité des micro-commutateurs RF à actionnement éléctrostatique - Afshin Ziaei - Thales Research Technology

16h15: Fiabilité et performances des technologies d'interrupteurs MEMS RF à l'échelle européenne pour application spatiale - Jérémie Dhennin - ELEMCA

16h40: Conception de circuits électroniques intégrant une analyse prédictive du vieillissement sous contraintes en DC et approche RF - Patrick Martin - LAMIPS

 
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